制造商产品编号:
SN74LVTH18646APMG4
Product Overview
制造商:
Texas Instruments
零件编号:
SN74LVTH18646APMG4-DG
描述:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
详细描述:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
库存:
683 件 新原装 现货
1863221
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SN74LVTH18646APMG4 技术规格
类别
逻辑, 特种逻辑
制造商
Texas Instruments
包装
Bulk
系列
74LVTH
产品状态
Active
逻辑类型
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
电源电压
2.7V ~ 3.6V
位数
18
工作温度
-40°C ~ 85°C
安装类型
Surface Mount
包装 / 外壳
64-LQFP
供应商设备包
64-LQFP (10x10)
基本产品编号
74LVTH18646
数据表和文档
附加信息
标准套餐
160
其他名称
SN74LVTH18646APMG4INACTIVE
TEXTISSN74LVTH18646APMG4
2156-SN74LVTH18646APMG4
环境与出口分类
RoHS 状态
ROHS3 Compliant
湿气敏感度等级 （MSL）
2 (1 Year)
REACH 状态
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
数字证书
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