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制造商产品编号:
SN74BCT8374ANTG4
Product Overview
制造商:
Texas Instruments
零件编号:
SN74BCT8374ANTG4-DG
描述:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
详细描述:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
库存:
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1667859
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SN74BCT8374ANTG4 技术规格
类别
逻辑, 特种逻辑
制造商
Texas Instruments
包装
-
系列
74BCT
产品状态
Obsolete
逻辑类型
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
电源电压
4.5V ~ 5.5V
位数
8
工作温度
0°C ~ 70°C
安装类型
Through Hole
包装 / 外壳
24-DIP (0.300", 7.62mm)
供应商设备包
24-PDIP
基本产品编号
74BCT8374
数据表和文档
数据表
SN54/74BCT8374A
附加信息
标准套餐
60
其他名称
SN74BCT8374ANTE4-DG
SN74BCT8374ANTE4
环境与出口分类
RoHS 状态
ROHS3 Compliant
湿气敏感度等级 (MSL)
1 (Unlimited)
REACH 状态
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
替代模型
零件编号
SN74BCT374N
制造商
Texas Instruments
可用数量
0
部件编号
SN74BCT374N-DG
单价
4.14
替代类型
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数字证书
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