SN74BCT8374ANTG4
制造商产品编号:

SN74BCT8374ANTG4

Product Overview

制造商:

Texas Instruments

零件编号:

SN74BCT8374ANTG4-DG

描述:

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
详细描述:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP

库存:

在线询价
1667859
请求报价
数量
最低1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) 是必填项
我们将在24小时内回复您
提交

SN74BCT8374ANTG4 技术规格

类别
逻辑, 特种逻辑
制造商
Texas Instruments
包装
-
系列
74BCT
产品状态
Obsolete
逻辑类型
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
电源电压
4.5V ~ 5.5V
位数
8
工作温度
0°C ~ 70°C
安装类型
Through Hole
包装 / 外壳
24-DIP (0.300", 7.62mm)
供应商设备包
24-PDIP
基本产品编号
74BCT8374

数据表和文档

数据表
SN54/74BCT8374A

附加信息

标准套餐
60
其他名称
SN74BCT8374ANTE4-DG
SN74BCT8374ANTE4

环境与出口分类

RoHS 状态
ROHS3 Compliant
湿气敏感度等级 （MSL）
1 (Unlimited)
REACH 状态
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001

替代模型

零件编号
SN74BCT374N
制造商
Texas Instruments
可用数量
0
部件编号
SN74BCT374N-DG
单价
4.14
替代类型
MFR Recommended
数字证书
certification_01
certification_02
certification_03
certification_04
cr
certification_015
certification_08
esd
相关产品
microchip-technology

SY10EL16VKC-TR

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

microchip-technology

SY10EL16VKC

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

microchip-technology

SY100EP16VKG-TR

IC LN RCVR DIFF 3.3V/5V 8MSOP

microchip-technology

SY58601UMI-TR

IC LDRVR/RCVR LVPECL 800MV 8MLF