制造商产品编号:
SN74BCT8240ADWR
Product Overview
制造商:
Texas Instruments
零件编号:
SN74BCT8240ADWR-DG
描述:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
详细描述:
Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC
库存:
1562457
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SN74BCT8240ADWR 技术规格
类别
逻辑, 特种逻辑
制造商
Texas Instruments
包装
-
系列
74BCT
产品状态
Obsolete
逻辑类型
Scan Test Device with Inverting Buffers
电源电压
4.5V ~ 5.5V
位数
8
工作温度
0°C ~ 70°C
安装类型
Surface Mount
包装 / 外壳
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商设备包
24-SOIC
基本产品编号
74BCT8240
数据表和文档
数据表
HTML 数据表
附加信息
标准套餐
2,000
其他名称
TEXTISSN74BCT8240ADWR
2156-SN74BCT8240ADWR
2156-SN74BCT8240ADWR-TITR-DG
环境与出口分类
RoHS 状态
ROHS3 Compliant
湿气敏感度等级 （MSL）
1 (Unlimited)
REACH 状态
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
数字证书
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